用于质谱仪的构件
 
JP2015182539  2015-9-16  发明申请

2017-3-23
 
  [问题]在质谱仪,离子飞行空间温度的变化引起长度的构件,用于分析技术能够避免劣化的精度。[解决方案]的自由飞行的离子加速电场,在根据飞行时间的质荷比,直到到达检测器的每个的质量检测分析装置(100),离子飞行轨迹4设置有沿杆件,和第二部分的沿着飞行路径的长度L1]F[1]41,41设置相邻的第第一部分(1)沿着飞行路径F,1第一部分41的材料不同的材料形成,第第一部分(42)包括沿着飞行路径的长度为L2,F[2]。本,长度L1和L2的长度,第一部(41)沿着飞行路径的线性膨胀系数α1]F[1],2,第一,42的线膨胀系数α2F沿航迹材料,当形成,l2×α×α1设定为L1+“2=0。图[图1]
 
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