| 用于离子的质量分析装置 |
| EP07405338 2007-11-28 发明申请 |
| 2008-6-18 |
| 一种用于离子的质量分析装置包括一高电流的离子源(10)，特别是一种离子源提供在至少5000000离子\/秒，优选至少50000000离子\/S，在所述离子源的输出，一个时间--飞行的质量光谱仪(40)用于分析的离子传输从所述离子源(10)和一个滤波器(20)用于分割输入根据它们的离子M\/Q比为第一离子的离子和为第二组的组。所述滤波器(20)被耦合到所述离子源(10)和所述的滤波器(20)和所述时间--飞行质谱仪被设置在这样的一种方式使所述的离子第一组被发送到所述质量光谱仪(40)。和使所述的离子第二组没有被发送到所述质量光谱仪(40)。此外，所述滤波器(20)是设计这样的一种方式第二中的离子的组由属于一个或几个窄频带的M\/Q。该装置允许用于分析较小的化合物的离子通过所述高电流产生的离子源(10)具有良好的选择性; 通过主化合物原状。 |
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