| 质谱分析装置，质谱分析装置，质谱分析方法以及质谱分析方法 |
| JP2017216596 2017-11-9 发明申请 |
| 2019-6-6 |
| [问题]对于质谱仪，质量分析器，用于质量分析的质量分析器和控制方法，可以在短时间内，高效率地进行高精度的控制。 [溶液]样品和作为离子的样品离子在样品1的质量分析的电离质量校准中被电离，由电离部分21控制。 分析样品离子和离子阱质量校准样品，选择样品离子作为前体离子质量校准样品不受控制部分2的选择性控制使得碎片离子阱离子解离解离23。 控制部控制为校正质谱仪和多个碎片离子而进行的样品离子质谱分析的分析。 校准部分校准由质谱仪基于多个校准样品获得的用于碎片的离子质荷比的质荷比的质谱。 图2[附图] |
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