| 离线质量校准 |
| US16267988 2019-2-5 发明申请 |
| 2019-6-6 |
| 一种方法包括从一种或多种校准物质产生离子并将离子输送到质量分析器，以及测量来自一种或多种校准物质的离子的第一组质量相关物理量。 所述方法还包括从样品产生离子并将所述离子输送到质量分析器，以及测量第一样品离子种类的与质量相关的第二物理量。 所述第一样品离子种类具有在校准离子种类的质量电荷比的范围之外的质量电荷比。 另外，该方法包括基于第一组质量相关物理量和第二组质量相关物理量来计算校准曲线，以及基于校准曲线来修改至少一个仪器参数。 |
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