| 高动态范围探测器校正算法 |
| US14401030 2013-4-19 发明申请 |
| 2015-5-21 |
| 提供了执行死区时间校正的系统和方法。 使用质谱仪的非瘫痪检测系统获得观察到的离子计数率。 该检测系统包括离子检测器、比较器/鉴别器、单稳态电路和计数器。 不可瘫痪检测系统在高计数率下表现出死时间延长。 死区时间的延长是因为单稳态电路需要上升沿来触发，并且只有在比较器/鉴频器的输出脉冲变为低电平时才能再次触发。 这允许刚好在由第一比较器/鉴别器脉冲开始的死区时间结束之前到达的第二比较器/鉴别器脉冲将死区时间延长到第二比较器/鉴别器脉冲的后沿。 通过对观察到的离子计数率执行死区时间校正来计算真实离子计数率。 |
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