质谱仪
 
CN201811363932.7  2018-11-16  发明申请

2019-5-28
 
  本公开提供了一种将分析物离子注入质量分析器的方法。所述方法包括将第一电荷的分析物离子注入离子阱并且将第二电荷的反荷离子注入所述离子阱。同时冷却所述离子阱中的所述分析物离子和所述反荷离子,以减少所述离子阱中所述分析物离子的空间分布。所述分析物离子作为离子包从所述离子阱注入所述质量分析器。本公开还提供了一种用于控制离子阱以将分析物离子包从所述离子阱注入质量分析器的质谱仪控制器,以及一种质谱仪。
 
仿站