| 适于基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪的光路系统 |
| CN201910078983.3 2019-1-28 发明申请 |
| 2019-5-3 |
| 本发明公开了一种适于基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪的光路系统，包括离子源室、真空室、质量分析器、检测器、激光器、激光位置调节器、CCD成像装置；CCD成像装置和激光位置调节器分别设置在离子源室外壁位于质量分析器的两侧；离子源室内位于离子飞行管两侧分别通过角度调节支架设置有激光反射镜和成像反射镜；激光位置调节器的平凸透镜光轴通过激光反射镜与激光聚焦透镜光轴相重合，从而构成激光光路；CCD成像装置的滤光片光轴通过成像反射镜与CCD成像镜头光轴相重合，从而构成CCD成像光路。本发明优点在于最大限度的利用激光系统发射的光，形成高清晰的图像呈现在操作界面上，方便使用者实时对样靶状态进行观察，操作方便。 |
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