| 离线质量校准 |
| US15079476 2016-3-24 发明申请 |
| 2016-9-29 |
| 一种方法，包括从一种或多种校准物质产生离子并将所述离子输送到质量分析器，以及测量来自所述一种或多种校准物质的离子的第一组质量相关物理值。 所述方法还包括从样品产生离子并将所述离子输送到质量分析器，以及测量第一样品离子种类的与质量相关的第二物理值。 第一样品离子种类具有校准离子种类的质荷比范围之外的质荷比。 另外，所述方法包括基于所述第一组质量相关物理值和第二质量相关物理值计算校准曲线，以及基于所述校准曲线修改至少一个仪器参数。 |
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