| 质谱分析方法和质谱分析装置 |
| WOJP14059458 2014-3-31 发明申请 |
| 2015-10-8 |
| 本发明提供一种质量分析装置(1)，用于测量序列中多个对象的离子，所述质谱装置(1)，其特征在于，具备 : 存储单元(41)，在其中存储，用于每个所述的多个对象离子，离子飞行时间相关的信息所需要的时间飞行穿过每个所述部件构成质谱分析装置；和电压控制单元(42)，由此，用于每个所述对象的离子，电压施加到每个零件的对象改变到适当的电压离子，与时间差对应的到达定时的偏移到每个所述份，基于离子飞行时间信息。 |
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