| 光片显微镜和用于确定样品空间中的物体的折射率的方法 |
| WOEP20058256 2020-3-25 发明申请 |
| 2020-10-15 |
| 本发明涉及一种光片显微镜，其包括：样品空间，在所述样品空间中可布置具有限定部分反射边界表面的表面的盖玻片或载玻片； 具有面对盖滑动件或滑动件的物镜的光学系统； 照明装置，其被设计成产生光片； 传感器； 以及处理器。 所述光片显微镜形成用于捕获被测物的测量装置。 该测量装置设计成使光片以倾斜入射的方式通过光学系统偏转到盖滑动件上或滑动件上， 通过在边界表面部分地反射光片来产生反射光束，并通过光学系统接收反射光束并将其偏转到传感器上。 传感器被设计成捕获反射光束的强度和/或入射位置。 该处理器被设计成基于所捕获的反射光束的强度和/或入射位置来确定被测对象。 |
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