| 分析装置及其控制方法 |
| JP2018032017 2018-2-26 发明申请 |
| 2018-9-6 |
| 分析装置(1)包括以下 : 一个下分子的离子化单元(11)，用于电离分析；过滤器单元(13)，用于形成场电离产生的离子通过这些孔单元有选择地通过；检测器单元(14)，用于检测离子穿过所述滤波单元；离子驱动电路(61)，用于电动驱动所述电离单元；一种领域驱动电路(62)，用于电动驱动所述滤波单元；控制单元(22)，用于控制离子驱动电路的输出与领域驱动电路；温度的温度检测单元(27)，用于检测所述离子驱动电路，字段驱动电路；以及校正单元(22)校正的离子驱动电路的输出设置和现场驱动电路在基于所检测到的温度的温度检测单元。 |
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