| 分析装置 |
| JP2018524618 2016-6-28 发明申请 |
| 2018-11-29 |
| 本发明试剂中加入流动相或液晶的MS不能检测到通过常规的检测微量成分也会影响。所有的第一，执行测量的空白，所述背景信号值发生移动，在质谱mbg m/z(S2得到的相位~S4)中提取的。本，所述背景信号值从预定的m/z m/z mbg多个m/z范围分割扫描携带产生分析排除的测量方法，根据样本的LC/MS分析的分析方法执行(S5-S6)。从数据获得的总离子色谱图(TIC)制备，大大降低背景信号的影响，不会出现基线TiC。因此，检测峰值(S7)上的TiC杂质，如果存在附近的范围内存在的峰的质谱峰m/z(S8)-S11)从特定的杂质。 |
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