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宏观质谱仪

DE202017103149 2017-5-24 实用新型

2018-10-11

质谱仪(10)，用于确定宏观颗粒物的质量，包括粒子源(20)，用于提供肉眼可见的颗粒物(8，8a，8b)，-极滤质器(30)的肉眼可见的颗粒物分离，-检测器(45)，用于检测肉眼可见的颗粒物。