| 四极型质谱和四极型质量分析装置 |
| JP2017075636 2017-4-6 发明申请 |
| 2018-11-15 |
| [问题]为了算出的值经运算处理后质量精度或高清晰度值。[解决方法]一种真实频谱值计算部(71)上，m/z的离子检测器5检测到预定值，所述轴稳定区域图和垂直于所述轴的轴线放置q确定的维度稳定区的扫描线3时的离子强度和垂直于平面的横截面切割-Q高度，所述的产物离子的质谱从而为大规模集成化的真实函数，卷积定理，可以应用于变形后形成的卷积定理功能单元，将得到的，感测值；所述型材的高度傅里叶变换后对应的真实质量谱的函数关系，利用算术表达，从所检测的值计算出真实光谱的离子束的离子。因此，扫描线不穿过或靠近顶部区域的工作状态稳定，离子质谱能够真实准确地测定。图[图1] |
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