| 质谱仪 |
| JP2018512664 2016-4-18 发明申请 |
| 2018-11-8 |
| (13)(100)在激光照射部之间的预定位置的样品，(14)具有预定形状的孔径和孔件具有短焦距成像光学系统(15)设置成，开口(100)减少对样品的成像，和形成近似方形的激光束的照射区域。此外，孔(14)和(15)沿着光轴移动所述成像光学系统可以构件和，在样品(100)的激光照射区域的大致正方形形状的改变孔的尺寸。样品(100)分析单元的激光束照射在目标区域尺寸的区域内该区域的大小，激光照射位置移动，也可以以匹配所述目标区域中的台阶宽度尺寸所述单元，在样品(100)的激光照射均匀，不重叠扫描质谱数据可以被收集。因此，样品物质可以有效利用，消除了泄漏，信号强度还增加了材料的均匀性是均匀分布的。 |
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