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质量光谱仪

WOGB06004385 2006-11-23 发明申请

2007-5-31

一种离子阱质量分析仪(1)是本发明公开了一种包括一个分段杆设置。该质量分析器内沿径向被俘获的离子通过一径向伪-势阱。所述二次离子也被限制在轴向内轴向势阱。一个补充的交流电压或电位被施加到所述电极包括所述离子阱质量分析仪(1)在该离子阱内，以便激发离子的参数(1)。