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光谱测量检测下限的离子源

CZ20080260 2008-4-28 发明申请

2009-11-11

一种用于质谱和离子迁移谱中检测下限的离子源，该离子源利用限制在离子源出口处的气体和蒸汽流入环境气氛(10)中并将辅助介质供应到离子源(3)的工作区域中，以便在离子源(3)的工作区域中实现压力的增加，这导致信号强度增加数量级(S)。