| 质量分析装置及方法 |
| JP2017012681 2017-1-27 发明申请 |
| 2018-8-2 |
| [A]，无需拆卸所述推斥电极或电极准确地掌握镜头污染。控制部(51)决定充电时间[A]，电极14的电压施加到透镜-14℃保持恒定值，一种电压施加到所述推斥电极(124)的预定范围内任意变化顺序，该化合物从部分1离子峰强度测量的每个应用的控制。获得部(33)的峰强度数据124电压曲线关系强度增加的电压施加到所述推斥极的电压和光强变化关系的确定在序列中的变化。所述推斥电极结垢或没有充电时，一种电压的变化而变化的强度的关系成为圆滑曲线。该电极充电时脏，影响强度的变化值。强度曲线的程度的指标值从33的强度的变化量计算部分计算，基于索引值判断部(34)确定查找结果的充电程度显示部7上显示污物。图[图1] |
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