| 高分辨率离子阱质谱仪 |
| EP16197259 2016-11-4 发明申请 |
| 2017-5-10 |
| 技术可增加使用的分辨率和准确性获得的质谱离子阱通过实际的用途所述离子阱的峰形，它为一系列较小的离子喷射事件。峰形识别为切换所述信号相同的周期和激励信号，在该点，峰形进行重复。峰形可以是在相同的周期，产生N条基函数，对于给定的质量分数分别用于不同扫描速率。所述N基函数可以复制(例如在共同的周期，由一组共同的周期)，得到在全扫描质量的质量分数函数，该函数表征范围。本发明的质谱可以得到被测件的质量的功能设定数据得到最佳拟合所测量的质量函数将每一个贡献数据。 |
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