一种改进离子阱质谱仪低质量截止值的方法
 
CN201410085907.2  2014-3-10  发明申请

2015-9-16
 
  本发明涉及一种改进离子阱质谱仪低质量截止值的方法;所述离子阱的驱动工作电源为数字方波电源,方法包括(1)先固定数字方波电源的电压和周期T进行离子的存储和质量选择;(2)然后进入离子的碰撞解离CID过程,在CID过程中,逐渐降低数字方波电源的周期T,使得被选择出的母体离子被激发至较高能量状态,并可以进一步与离子阱中的中性分子碰撞解离,产生碎片离子;(3)再从小到大扫描数字方波电源的周期T以实现离子的质量分析;上述所有过程均由计算机控制。此方法可以解决串级质谱分析中的三分之一低质量截止值的限制问题;实现了对低质量碎片离子的分析,显著提高数码离子阱质谱的性能。
 
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