| 串联式质谱仪 |
| JP2017544118 2015-10-7 发明申请 |
| 2018-5-17 |
| (5)分析控制部的控制下，(2)该质量分析器，待测样品中的产物离子扫描测定时间范围的组分引入组件执行时，在同一时间段标准组件，包括m/z的离子m/z范围扫描测量被执行。(42)将质量校正信息计算装置；在光谱扫描，测量标准件观察得到的实测值与理论来自离子m/z值的MS从海量获得的校正信息。质量块(43)进行校正，利用校正的质量，并在同一周期中执行对光谱扫描测量得到的产物离子扫描测量。每个离子峰，观察到m/z MS/MS部件校正。基本上同时执行相同的周期与所述MS测量，从而在测量MS/MS认为，在大约相同的标准质量进行校正。 |
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