| 质量分析数据解析方法以及质量分析数据解析装置 |
| CN200880129663.6 2008-6-4 发明申请 |
| 2011-5-11 |
| 提供一种对出现来自目标化合物的多价离子峰的质谱进行解析处理并算出目标化合物的质量的方法和装置。首先，解析质谱上的各峰来检测同位素簇，求出各同位素簇的价数和代表点(m/z值)(S1～S3)。由于在离子化时加合到化合物上或者从化合物上脱离的成分的m/z值的范围受到限制，因此利用该情况来推定来自相同化合物的同位素簇，根据其组合来推定加合/脱离成分的m/z值的候选(S5)。对于所举出的多个候选，利用m/z值的分散程度、各同位素簇的代表点的相对强度的相似性等多个条件，排除明显异常的候选(S6～S9)。并且，最终选定m/z值的分散最小的候选或者代表点的相对强度的相似性最高的候选来决定加合/脱离成分的m/z值，然后计算化合物的质量(S10～S16)。 |
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