| 纳米质谱法 |
| EP13196920 2013-12-12 发明申请 |
| 2015-6-17 |
| 本发明提供一种装置用于质谱法包括 : 感测构件(101，201，301，401，501，601)可变形响应于入射的颗粒(105，209，318，413，507，607)，变形检测器(311，411，505，605)设置和被配置为确定的特性的指示传感件的变形，处理单元(417)关联的性能指示变形到至少一个性能的颗粒(105，209，318，507，607)，其中，传感构件设置和构造成使得颗粒(105，209，318，507，607)分散通过所述传感元件。一传感件，可以是碳纳米管或石墨烯片，或另一纳米级管的膜。检测可以由一光学或电子装置。 |
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