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使用MALDI-TOF质谱仪样品板及其制造方法

US14534335 2014-11-6 发明申请

2015-5-7

与MALDI-TOF(基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪)一起使用的样品板。所述样品板可用于几百Da数量级的聚合物材料的质谱分析和制造相同样品板的方法。所述样品板包括靶板、形成在所述靶板的一个表面上的有机基质和形成在其上形成有机基质的靶板上的聚对二甲苯薄膜，所述聚对二甲苯薄膜完全覆盖所述有机基质。