样本成像的设备和方法
 
WOUS17045087  2017-8-2  发明申请

2018-2-8
 
  基于改进的质谱分析装置和方法分析样品的分析。激光采样系统可适于发射脉冲激光辐射在两个或多个波长,所述第第一材料和第第二波长的第一波长目标靶第二的材料。原子第一和第二的材料,通过激光烧蚀除去这些离子的电离系统构成元素离子通过质谱仪可检测部件。可在多个位置上进行激光烧蚀形成多股,可单独进行电离和分析。在已知位置上消融或每个位置可容许构造有记录位置信息的图像样本(一个或多个)基于检测标记原子。
 
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