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4
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基质添加剂质谱法
US14495814 2014-9-24 发明申请
2015-10-1
本发明提供了一种质谱中使用能够提高电离效率的基质添加剂进行高灵敏度分析的质谱分析方法。 一种聚积光谱测定方法,包括以下步骤 : 在用于质谱测定的靶板上形成用于质谱测定的混合晶体,所述混合晶体包括待分析样品、基质和基质添加剂,所述基质添加剂选自下式(I)所示的2,5-二羟基苯甲酸酯和3,5-二羟基苯甲酸酯 : 其中R表示具有4-14个碳原子的烷基; 用激光照射混晶,检测待分析样品。
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