| 显微镜观察方法，透射型显微镜装置及扫描透射型显微镜装置 |
| WOJP19008720 2019-3-5 发明申请 |
| 2020-9-10 |
| 本发明提供一种显微镜观察方法和透射型显微镜装置，其能够解决使用会聚光束的传统四维显微镜方法的问题， 本发明提供一种显微镜观察方法和透射型显微镜装置，该显微镜观察方法和透射型显微镜装置具有： 照明步骤，用于用从点光源发射的光从各个角度方向对观察对象进行平行照射； 成像步骤，用于收集被观察对象偏转并通过设置在与点光源共轭的位置处的孔径的散射光，并在检测表面上形成实际图像； 扫描步骤，用于在二维扫描所述点光源的同时执行所述照明步骤和所述成像步骤，以产生包括光源表面二维坐标和检测表面二维坐标的四维数据； 以及差分相位图像获取步骤，用于对四维数据执行光源表面二维坐标中的重心积分计算以获取二维差分相位图像。 |
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