| 质谱仪 |
| JP2016127459 2016-6-28 发明申请 |
| 2018-1-11 |
| 获得的质谱离子源仅利用EI离子容易地确定样品分子的[向]。[解决方案]的电离电压的值低于参考值2(70eV)通过EI离子源切换至获取用于对同一样品的质谱。对于每个强度值的质谱峰强度值的每个强度值作为标准化基座的72100归一化，归一化质量差，低能量离子化质谱中减去差部(73)后EI质谱的质谱。样品分子离子质谱的样品分子离子质谱在原有的两个特定部分(74)从指定的差。对碎片离子的离子化的样品分子比低电压增大，所述差样品分子离子的质谱中碎片离子峰，降低可以容易地进行确认。图[图1] |
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