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产业专利数据

多离子门方法和装置

US14742653 2015-6-17 发明申请

2016-1-7

离子迁移率谱仪中的第二栅极用于选择或阻挡离子迁移率谱的不同时间窗口。离子迁移率质谱仪中的第二门用于调制IMS光谱中的峰强度，从而允许IMS光谱中的每个峰与其在随后的MS-MS质谱中的碎片离子组明确地匹配。