| 微粒收集器及气化炉 |
| JP2015018523 2015-2-2 发明授权 |
| 2016-8-31 |
| 本发明提供一种粒子分析技术的同时，实时收集和聚集的粒子中连续。气体和/或粒子作为检测目标物质附着在认证目标(2)除去空气从吹填区5。所述去层次样品的抽吸和冷凝取样的取样区域10，样品产生的离子在离子源21，然后进行质量分析。一种质量分析区23。根据所得质谱谱测定的存在与否作出质谱衍生的所述检测目标物质和监视器27显示结果。由此，所述检测目标物质层附着在认证目标2可以实时连续检测，及时，具有故障率低。 |
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