| 用于静态气体质谱分析的设备和方法 |
| CN201710243758.1 2017-4-14 发明申请 |
| 2017-12-12 |
| 本发明涉及用于静态气体质谱分析的设备和方法。该静态气体质谱分析方法包括以下步骤：在时间t0处将包括两个或多于两个待分析的同位素的样本气体引入到静态真空质谱仪中；以低于所述样本气体的电离电位的第一电子能量操作所述质谱仪的电子碰撞电离源达在t0之后直到时间t1的第一时间段；及以至少高达所述样本气体的所述电离电位的第二电子能量操作所述电子碰撞电离源达在时间t1之后的第二时间段。从t0到t1的所述第一时间段是对应于所述样本气体的所述同位素在所述质谱仪中平衡所花费的周期。 |
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