| 质量分析装置和质量校正方法 |
| CN201280076889.0 2012-11-9 发明申请 |
| 2015-7-15 |
| 在对同一被检试料重复进行多次设定了m/z是已知的(m/z＝M)母离子的MS/MS分析时，在其中一部分实施难以发生CID的解离条件下的MS/MS分析(S3-S9)。如果通过积算如此获得的质谱数据而制作MS/MS质谱图(S10)，则一定能观测到m/z＝M且为已知的母离子。因此，在MS/MS质谱图上检测出相当于该离子的峰，求出该m/z的实测值与m/z的理论值M之间的质量偏差(S11)，制作基于质量偏差而校正了其他峰的质量偏移的质谱图(S12)。由此，在MS/MS质谱图中也能够进行实质上是根据内部标准法的质量校正，能够比以往提升质量精度。 |
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