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离子阱质谱计及离子阱质谱测定方法

US14610355 2015-1-30 发明申请

2015-8-20

本发明提供了一种离子阱质谱仪和离子阱质谱仪方法，可以实现样品电离次数的减少和测量时间的缩短。基于MS1光谱检测与强度或S/N比落在预定范围L内的多个峰P11、P12和P13相对应的离子作为MS2前体离子。在离子阱中一次解离多个被检测为MS2前体离子的离子，并进行质谱测定以测量MS2光谱。