| 改进的锁组件的校正 |
| GB1304040 2013-3-6 发明申请 |
| 2013-4-17 |
| 一种质谱仪进行校准的方法包括最初校准或重新校准在时间T0，同时质谱仪测量和飞行优选的记录时间或质量-电荷比M0一个或多个高分辨离子。在随后的时间t1，飞行的时间或质量-电荷比m1的高分辨离子再次测量和差异m0，m1之间的计算。该飞行时间或质荷比的离子，然后通过所述差调整。仪器设定的质谱仪也可以相应地调节。本发明补偿仪随时间的偏移，同时避免系统标定误差，传统方法中可以出现当m1为与理论与实际高分辨值而不是在时间测量m0的初始校准。该方法也可以用于校准离子在其它理化性质分析等仪器离子迁移率，微分离子迁移率或洗脱时间。 |
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