质谱仪的质量相关自动增益控制
 
US14600851  2015-1-20  发明申请

2015-8-13
 
  公开了用于质谱仪中自动增益控制的系统和方法。 示例性系统可包括质谱仪和质量分析器,质谱仪包括配置成接收离子供应的透镜。 质量分析器可包括用于捕获所供应的离子的离子阱。 质量分析器还可以包括用于检测离开离子阱的离子的离子检测器。 透镜可以基于离子的质量不均匀地聚焦离子,以补偿在质谱仪的测量输出中反射的空间电荷效应。
 
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