| 一种基于原子力显微镜测定微纳尺度界面亲疏水性的方法 |
| CN202010377170.7 2020-5-7 发明申请 |
| 2020-9-1 |
| 本发明公开了一种基于原子力显微镜测定微纳尺度界面亲疏水性的方法。测定方法如下：1)用不同比例的混合硫醇/乙醇溶液浸泡并修饰清洗后的镀金硅片，获得一系列不同亲疏水性的镀金硅片；2)测定不同表面亲疏水性镀金硅片表面的水接触角；3)用丙基三甲氧基硅烷修饰原子力显微镜的针尖，并用该针尖测定步骤2)得到的一系列镀金硅片表面的黏附力；4)通过拟合建立疏水作用引起的黏附力和代表界面亲疏水性的水接触角的关系；5)用修饰后的针尖测定未知界面的黏附力，并通过拟合的函数关系得到界面亲疏水性信息。本发明测定的空间分辨率高，克服了传统接触角只能测定宏观的亲疏水性的缺点，可应用于微纳尺度界面亲疏水性的表征测定。 |
微信公众号