| 质量分析装置和质量分析方法 |
| US14534749 2014-11-6 发明授权 |
| 2015-10-27 |
| 对同一样品进行质量分析，同时改变冷却气体供给离子阱的速率，即气体压力条件，并获得相应的质谱。 在高气体下，离子能量降低，磷酸盐等改性剂不易脱附；在低气体下，离子能量保持较高，改性剂易脱附。 因此，在改变气体压力时获得的多个质谱之间，如果信号强度增加的峰与信号强度减少的峰之间的质量差对应于已知改性剂的质量或其整数倍，则可以推断这些峰具有相同的基本结构并且仅在改性剂的数量上不同。 因此，选择这样的峰作为前体离子以执行MS2分析和结构分析。 |
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