| 使用纳米颗粒基质的质谱分析 |
| US14487806 2014-9-16 发明申请 |
| 2015-3-19 |
| 提供了表征感兴趣的分析物的方法。 所述方法可涉及使用纳米颗粒(例如,磁性铁氧体纳米颗粒)群体作为基质辅助激光解吸电离(MALDI)质谱测定的基质。 纳米颗粒的尺寸、形状和组成可以根据多种因素来选择,包括感兴趣的分析物的性质、所需的质谱特征、导向目标组合物的能量性质、以及它们的组合。 该纳米颗粒基质可通过提供更清洁的质谱背景和/或通过源内衰变(ISD)诱导分析物离子的大量碎裂来增强MALDI分析。 纳米颗粒也是多功能性和选择性的; 可以调节纳米颗粒基质以使基质颗粒与感兴趣的分析物相容和/或改善对感兴趣的分析物的选择性。 |