| 质量分析仪利用多个轴向的伪-电位势垒 |
| GB0708363 2007-4-30 发明申请 |
| 2007-11-7 |
| 一种离子导或质量分析仪2是本发明公开了一种包括多个电极具有通过其孔2a的离子使用中被发送的。一种多个轴向的伪-电位势垒，阱或波纹被创建的沿至少一个所述长度的部分的所述离子导或质量分析仪2(见图3A，3B和4)。pseudopotential势垒是还创建在所述入口和\/或出口的所述离子导或质量分析仪2(见图6a，6b和7)。所述幅值或所述伪-电位或时间的平均深度的波纹，阱或障碍物是成反比的所述一种离子的质量-电荷比，一个或多个瞬态直流电压或直流电压波形4被施加到所述电极2a中所述离子导或质量分析仪2的一阶到推动沿该长度的所述离子导或离子质量分析仪2。所述所述瞬态直流电压的幅度4施加到所述电极2a与时间可以被增加，使得离子是引起的待发射的从所述离子导或它们的质量的质量分析仪2在相反的顺序，以电荷比。 |
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