| 用于扫描探针显微镜的样品保持器，扫描探针显微镜和Seebeck系数计算方法 |
| JP2019021555 2019-2-8 发明申请 |
| 2020-8-27 |
| [A]可以获得局部热性质的测量结果，以及扫描探针显微镜用样品架的塞贝克系数计算方法。 [解决方案]在扫描目标样品加热区20的扫描探针显微镜中，该扫描探针显微镜保持加热侧支撑件2a之间的导热性， 2b和保持试样支承体的冷却区域20的热传导率的冷却侧， 加热侧支承体和加热装置在冷却装置和侧支承体之间被冷却，包括在冷却侧和加热侧之间的温度梯度形成过渡区域的区域。 图1[附图] |
微信公众号