用于质谱仪的污染物过滤器
 
WOIB14001143  2014-6-20  发明申请

2014-12-24
 
  用于进行质谱测定的方法和系统提供了本文中。在根据本申请人的教导的各个方面,该方法和系统可利用离子迁移谱仪工作在常压或低真空压力,以除去的主要贡献者的污染和降解的关键下游组件的质谱仪位于高真空系统(例如,离子光学装置,滤质器,检测器),与限制的信号损失。
 
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