| 质谱计和质谱分析方法 |
| US14565479 2014-12-10 发明申请 |
| 2015-8-6 |
| 本发明提供了一种质谱计和质谱分析方法，可以实现缩短测量时间和降低样品消耗。 基于保留时间、质荷比和强度的三维信息，将其中强度分布在每个保留时间和每个质荷比两者处形成峰值波形的离子(峰P11、P21、P22和P32)检测为MS/MS前体离子。 基于在每个保留时间rt1至rt3是否叠加多个离子的同位素分布，预先确定是否对每个离子执行ms3分析。 由此，在测量MS光谱以检测MS/MS前体离子时，可以确定对其执行MS3分析的离子(峰P21和P22)和不对其执行MS3分析的离子(峰P11和P32)。 |
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