| 质量分析数据解析装置 |
| WOJP13077843 2013-10-11 发明申请 |
| 2015-4-16 |
| 质谱分析后得到的数据进行全部的测量点的二维测量区域读取(S1)，特征值计算每个m/z值通过统计纹理分析的性能，使用空间灰度相关的方法或一些其它方法，在基于图像采集的数据从所有的测量点(S2至S5)。此外，频谱从特征生成用于每个m/z值的值(S6)。峰值检测，进行光谱上，规定的峰的数量选择强度峰的顺序进行分析，和m/z值的峰确定(S7，S8)。由于特征反映特定物质得到的空间分布统计纹理分析，可以选择m/z值是可用于分析的特定空间分布。具有这些数据选择的m/z值并且利用用于多变量数据分析使得能够从中提取信息质谱成像数据是更有用比传统的信息。 |
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