质谱仪污染过滤器
 
US14894494  2014-6-20  发明申请

2016-4-28
 
  本文提供了用于执行质谱分析的方法和系统。 根据申请人教导的各个方面,所述方法和系统可以利用在大气或低真空压力下操作的离子迁移率光谱仪,以有限的信号损失去除对位于高真空系统内的质谱仪的关键下游部件(例如,离子光学器件、质量滤波器、检测器)的污染和劣化的主要贡献者。
 
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