| 分析数据处理方法和装置 |
| WOJP14083864 2014-12-22 发明申请 |
| 2016-6-30 |
| 在本发明，当成像质谱进行在待测样品上的区域，个体参考值计算单元(21)决定最大π/Ⅱ值的测量点(其中Pi是一种TiC值和II为最大强度值)，节约了相同的外部存储装置(3)作为单个基准值，连同测量数据。当多个数据组来自不同的样本完成比对和分析，公共参考值确定单元(22)读取对应的多个单个基准值和使最小值一种公共基准值Fmin。归一化计算处理单元(23)，对每个强度从外部存储装置读取的值(3)乘以通过归一化系数long_maxx值(Fmin/π)从公共参考值Fmin确定的，TiC值Pi每个测量点，和long_max的最大允许值的变量存储时的强度值计算。作为结果，它可以简单地校准多个质谱之间的强度值图像数据项目，避免溢流在计算过程中，和舍入误差最小化。 |
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