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产业专利数据

质谱仪

WOIB14002550 2014-11-20 发明申请

2015-7-2

用于操作质谱仪的方法和装置被描述。在各个方面，感兴趣的质量范围的离子可从累积质量选择性地排出的离子阱为多离子阱结构。每个所述离子阱的多离子阱结构可被约束的一部分中的离子质量范围的趣味性。所述离子可以同时扫描，从多离子阱的离子阱结构可同时检测在一种探测器组件。