| 串联四极型质量分析装置 |
| CN201510337328.7 2012-11-22 发明申请 |
| 2015-10-14 |
| 在控制部(50)的处理条件参数存储部(51)设置表示碰撞池(31)内的CID气压和用于收集数据的驻留时间之间的对应关系的驻留时间算出表(51a)。在该表(51a)，CID气压越高驻留时间越长。一旦指示实施MRM测定模式，控制部(50)就会根据此时的CID气压决定驻留时间，并以如下方式控制数据收集部(41)，即：在该驻留时间期间，积算来自离子检测器(34)的检测信号并求出积算值。如果碰撞池(31)的CID气压较高，则离子的速度下降变得显著，离子强度的上升变得缓慢，但是如果驻留时间变长，则对积算值的缓慢的上升的影响会相对减轻，积算值的精度上升。由此，能够提高定量精度。 |
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