| 飞行时间质谱仪和使用质谱仪的质谱分析方法 |
| JP2013262298 2013-12-19 发明申请 |
| 2015-6-25 |
| 在MALDI-TOFMS中测定大量试样时，减轻校正作业的劳力，提高分析处理能力。 解决方案：对在样品板上的所有校准剂孔中制备的标准样品进行测量，通过使用每个测量结果和预先创建的校准文件i，计算多个校准剂的测量质量与理论质量之间的误差(S1至S6)。 在这种情况下，用户检查或确定源自校准剂的质谱上的峰。 之后，依次执行对在样品板上的样品井中制备的目标样品的测量，并且通过在最接近板上的目标样品的位置处使用标准样品的校准文件来进行质量校准(S7至S12)。 因为一系列的工作和过程是自动执行的，所以不需要由用户进行工作或确定。 版权：(C)2015年，JPO&INPIT |
微信公众号