| 一种成像质谱方法及装置 |
| US14722930 2015-5-27 发明申请 |
| 2015-12-3 |
| 一种执行样品的成像质谱测定的方法。 该方法包括使用包括多像素离子检测器的第一质量分析器执行样品的第一质量分析，以获得表示样品的像素的第一质谱数据。 该方法还包括识别共享第一质谱数据的一个或多个特征的像素簇。 该方法还包括使用第二质量分析器执行样品的第二质量分析，以在每个聚类中的至少一个位置处获得第二质谱数据，其中位置的数目显著小于每个聚类中的像素的数目，所述第二质量分析具有比所述第一质量分析更高的分辨率。 还提供了一种配置用于执行所述方法的质谱装置。 |
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