| 一种基于SIMION仿真的离子整形透镜结构设计 |
| CN201611246989.X 2016-12-29 发明申请 |
| 2017-5-31 |
| 本发明公开了一种基于SIMION仿真的离子整形透镜结构设计，首先通过SIMION对离子飞行轨迹进行分析，据此设计一种离子整形透镜装置。所述仿真过程为利用SIMION对离子飞行轨迹进行分析，主要包括建立离子飞行轨迹模型，及采用SIMION仿真进行参数优化。所述离子整形透镜为三个直径相同的同轴圆筒形电极组合而成的单透镜，所述离子透镜安装于飞行时间质谱仪的真空系统中，用于离子进行聚焦，减低离子空间发散的程度及能量、速度、角度的分散程度，以使得离子最大化地到达质量分析器。 |
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